Detour
Fiche technique
Label :
Test Pattern RecordsAnnée : 2014Date de sortie : 11 février 2014Artiste musical :
Soft ScienceLabel :
Test Pattern RecordsAnnée : 2014Date de sortie : 11 février 2014Artiste musical :
Soft ScienceSensCritique dans votre poche.
Téléchargez l’app SensCritique.
Explorez. Vibrez. Partagez.



À proposNotre application mobile Notre extensionAideNous contacterEmploiL'éditoCGUAmazonSOTA
© 2026 SensCritique
Thème